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專家講壇-關(guān)于電子顯微鏡的定義及發(fā)展

更新時間:2011-12-02   點擊次數(shù):5678次
感謝長期以來全國各個領(lǐng)域人士對我公司支持和幫助。我們北京中儀光科為回報社會,將不間斷的請一些行業(yè)專家和一部分科學家,為大家進行會議講座。已解答大家對顯微鏡的一些疑問。
電子顯微鏡
下面我們有請中科院劉博士為大家說說關(guān)于電子顯微鏡的定義及發(fā)展
 
張:“劉博士您好,感謝您能再百忙之中抽出時間來到我們中儀光科。再次謝謝您老。”
 
劉博士:“張你好,很高興來到中儀光科。那我們開始吧”
 
劉博士:首先,電子顯微鏡與光學顯微鏡的電子束是用來放大的標本,而不是光不同。 電子顯微鏡,顯微鏡和放大后擴大在光學顯微鏡更高的地步。 

 1,定義 
電子顯微鏡是顯微鏡的類型,使用電子束研究對象的一個很細的規(guī)模,創(chuàng)造一個高度放大的圖像。

2,類型 
電子顯微鏡的兩個主要類型有:透射電子顯微鏡(TEM)和掃描電子顯微鏡(SEM)。

3,發(fā)展 
的TEM電子顯微鏡的*類,是在1931年開發(fā)的zui大諾爾和恩斯特魯斯卡;掃描電鏡是在1930年中期開發(fā)。 隨著時間的推移,進步(尤其是在英國劍橋大學的研究人員所做的工作)和商業(yè)的*個中小型企業(yè)在20世紀60年代中期上市。

3,一個透射電子顯微鏡的工作原理 
透射電鏡使用的電子束以“看透”一個特定的標本;電子通過傳遞對象,試樣的結(jié)構(gòu)圖像。 此圖片是當電子由分散的標本材料電子束通過它創(chuàng)建。 電子不分散在顯微鏡底部打一個熒光屏,創(chuàng)造一個形象的標本。 圖像中亮區(qū)和暗的部分表示在試樣的材料密度差異。 透射電鏡放大倍率范圍的50倍到75萬X.

4,一個掃描電鏡工作原理 
就像它的名字所暗示的,掃描電鏡使用的電子束掃描整個樣品圖像。 當電子束撞擊樣品,其他電子從樣品中彈出。 退回的電子,然后由探測器收集轉(zhuǎn)換成一個信號,隨后發(fā)送到觀看屏幕。 掃描電鏡的放大倍率范圍從15倍到20萬X.

5,重大分歧
 如上所述,透射電鏡采用了電子束到標本“通過”,而一個SEM采用了電子束掃描整個標本。 由于這種差異,透射電鏡標本必須薄,掃描電鏡標本可以任意厚度。 由此產(chǎn)生的圖像也不同。 雖然透射電鏡顯示一個樣本的內(nèi)部圖像,掃描電鏡顯示樣品表面的圖像。

6,用途 
電子顯微鏡通常用來確定某一樣本的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和/或形態(tài)。 一些電信設(shè)備制造商可以判斷標本內(nèi)的特定元素和化合物的組成和相對比例;一個SEM可以用于確定分鐘試樣的表面紋理。
 
關(guān)于電子顯微鏡的定義及發(fā)展到這里就將完了,謝謝大家。
 
張:“謝謝,謝謝劉老為我們分享。”
 
備注:此文章專屬 北京中儀光科科技發(fā)展有限公司,如有轉(zhuǎn)載請注明出處http://www.cnnoptics.com/
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