徠卡顯微鏡--陶瓷腐蝕檢測(cè)

徠卡顯微鏡是口測(cè)方法的補(bǔ)充。許多人通過(guò)檢測(cè)試樣各部位和使用—些非常復(fù)雜的儀器，終身致力于陶瓷微觀(guān)結(jié)構(gòu)的研究*初步觀(guān)察采用徠卡顯微鏡和拍照。一個(gè)特殊試樣切割成更小的試樣或者研磨成紉粉用于進(jìn)一步分析，其形貌很難記住，照相記錄解決了這一問(wèn)題。

當(dāng)采用透射光觀(guān)察薄層能夠獲得大量信息時(shí)，陶瓷行業(yè)還刁慣廠(chǎng)采用反射光觀(guān)察磨光部分*這種趨勢(shì)主要內(nèi)許多儀器的出現(xiàn)而引起的，磨光部分必須通過(guò)x光射線(xiàn)衍射、能諾和域掃描電子顯微鏡獲得全斷的鑒定。使用薄樣能夠全面的鑒定，惟—。的J；足是需要一位熟練的顯微鏡技術(shù)人員了解隨著試樣特性的變化偏振光與非偏振光之間的相互作用‘、制備薄樣比磨光樣更令人感到乏味，但隨著當(dāng)今自動(dòng)設(shè)備的使用，制備薄樣變得很容易。此外，薄樣也不需要像磨光樣那樣精拋光（紉到亞微紉粒度）c與反射光不同，采用透射光試樣污染不影響對(duì)于微觀(guān)結(jié)構(gòu)的解釋。試樣厚度大約為30ym左右，薄樣的主要缺點(diǎn)是必須木大于一個(gè)晶體的厚度。隨著現(xiàn)代陶瓷由亞微細(xì)粒度的粉制成，許多產(chǎn)品本身不需要制成薄樣觀(guān)測(cè)，在這些情況下，磨光試樣必須充分。

可以觀(guān)察動(dòng)力學(xué)過(guò)程是徠卡顯微鏡優(yōu)于電子顯微鏡的一大特點(diǎn)。定時(shí)錄像顯微鏡能用來(lái)記錄隨時(shí)間變化的腐蝕過(guò)程。顯然，空溫過(guò)程和在水溶性介質(zhì)中zui容易觀(guān)察。錄像顯微鏡領(lǐng)域的工作是在生物細(xì)胞方面的研究，對(duì)該領(lǐng)域的有關(guān)資料可以參閱ChEny的著作。

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